技術(shù)文章
Technical articles太原理大學(xué)在北京亞歐德鵬科有限公司購(gòu)方塊電阻/電阻率四探針測(cè)試儀/便攜式四探針檢測(cè)儀 型號(hào):DP-WSP-51
DP-WSP-51數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴(kuò)散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻(簡(jiǎn)稱方阻),換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。
本測(cè)試儀可贈(zèng)設(shè)電池供電,適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作!
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng);測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
電 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方塊電阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸(手持式)
直 徑: 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(zhǎng)(或)度: 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級(jí)
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB |
4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg
北京亞歐德鵬科有限公司
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:曹雙雙
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