雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀／電阻率測(cè)試儀／方阻儀　型號(hào)：DP-2263

概述
DP-2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等分組成。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤(pán)和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入；具有零位、滿度自校能；測(cè)試能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上立操作成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測(cè)試臺(tái)。

儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
電 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑：DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主機(jī) 220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（）

四探針電阻率測(cè)試儀／四探針電阻率/方阻測(cè)定儀　型號(hào)：DP-2253

概述

DP-2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济?A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等分組成。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤(pán)和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入；具有零位、滿度自校能；測(cè)試能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上立操作成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選DP-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配DP-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配DP-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。

儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑：DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 機(jī) 220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（）
凈 重：≤2.5kg

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/電阻率/方阻測(cè)試儀　型號(hào)：DP-2258C

概述
DP-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济?A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選DP-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配DP-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配DP-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí)）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑： DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)()度： 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級(jí)
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ ---
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB

4.作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W

5.外形尺寸： 245mm（長(zhǎng)）×220 mm（寬）×95mm（）
凈 重：≤1.5～2.0kg  

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/電阻率/方阻測(cè)試儀　型號(hào)：DP-2258A

概述
DP-2258A型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济?A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選DP-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配DP-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配DP-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。

儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（可向下拓展1～3個(gè)數(shù)量級(jí)，括號(hào)內(nèi)為向下拓展3個(gè)數(shù)量級(jí)）
電 阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104 Ω
（1.0×10-6 ～ 200.0×102 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
電 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
方塊電阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□ 分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑： DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)()度： 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級(jí)
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
zui大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB

4) 作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm
凈 重：≤1.5～2.0kg

微量移液器/移液器/微量移液槍 型號(hào)：DP27026

產(chǎn)品參數(shù)：1μL～10μL/20μL～200μL/100μL～1000μL/500μL～5000μL

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對(duì)應(yīng)的