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數(shù)字式四探針測試計/數(shù)字式四探針測試儀
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產(chǎn)品分類
數(shù)字式四探針測試計/數(shù)字式四探針測試儀 型號:DP-SX1934
產(chǎn)品特點
四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M 標準的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心件,采用旋扭式開關控制,及各種作狀態(tài)LED示。應用微計算機,使得測量讀數(shù)更加直觀、快速。整套儀器體積小、耗低、測量度、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。
測量范圍 電阻率/Range:10-4—105Ω/□(可擴展/extended range) 方塊電阻(薄層電阻) /Sheet resistance:10-3—106Ω/□ 電阻/resistance:10-6—105Ω
可測晶片直徑(zui大) φ100mm(標配),方形230×220mm(zui大)
zui大電阻測量誤差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%讀數(shù)±2個字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
儀器重量 電氣主機:約4kg 測試臺:約5kg
測試環(huán)境 溫度:23±2℃ 相對濕度:≤65%; 無頻干擾 無強光照射
電源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W
備注 具備電腦接口
探頭
DP-Sx系列四探針探頭是采用綜合性能優(yōu)異的分子材料、耐磨和硬度的探針研制的測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準確度、耐用性能好四探針探頭。所有標符合家標準,同時符合ASTM標準有關規(guī)定。
間距:1±0.01mm; 針間緣電阻≥1000MΩ; 機械游移率:≤1.0%;
探針壓力:TZT-9A/9B: 12-16牛頓(總力) TZT-9C/9D 5-8 牛頓(總力)
2.
振動測定儀/振動測定儀/振動檢測儀/振動測試儀 型號:DP-5936
振動測定儀/振動測定儀/振動檢測儀/振動測試儀 概述:
DP-5936型振動儀是采用數(shù)字信號處理的新代袖珍式振動測量儀器,測量加速度、速度和位移,用于機器、電機、車輛、建筑等振動的測量。動態(tài)范圍大于80dB~100dB;FLASHRAM可靠保存測量結果。也可將本儀器作為振動測量的采集系統(tǒng),采集到數(shù)據(jù)保存在儀器中,再傳輸?shù)接嬎銠C步分析處理。更改軟件,可以按GB/T14790.1-2009要求測量手傳振動的Wh計權加速度,也可加入實時頻譜分析能。
振動測定儀/振動測定儀/振動檢測儀/振動測試儀 特點:
同時測量a、v、s三種振動量的有效值、峰值、峰峰值,以及F、S兩種時間計權;
可行積分測量,計算并顯示振動的等效值;
選配能:SD卡大容量存貯和錄音能,錄音時間:1秒到1小時。
振動測定儀/振動測定儀/振動檢測儀/振動測試儀參數(shù):
1、傳感器:加速度傳感器,靈敏度:1-100pC/m•s-2(可選擇)
2、積分器:由數(shù)字濾波實現(xiàn)并行(同時)加速度、速度、位移
加速度:0.03~1000m/s2速度:0.03~10000mm/s位移:0.03~100mm。
3、頻率范圍:加速度:8Hz~20kHz;速度:8Hz~4kHz;位移:10Hz~250Hz
4、檢波特性:并行有效值、峰值、峰峰值
5、時間計權:并行(同時)F125ms,S1000ms(時間常數(shù))和積分線性平均。
6、積分時間:1秒到24小時可分檔設定或意設定
7、動態(tài)范圍:加速度:80dB;速度:100dB;位移:80dB
8、采樣頻率:48kHz基本測量誤差:5%(15.92Hz為參考頻率)
9、主要測量標:快時間計權瞬時值、慢時間計權瞬時值、1秒等效值、等效連續(xù)值;加速度、速度、位移的有效值、峰值、峰峰值;測量經(jīng)歷時間(Tm)。
10、顯示器:128×128點陣液晶顯示,對比度16級可調,有LED背光
11、數(shù)據(jù)存貯:128組等效連續(xù)值及1s等效值
12、輸出接口:AC(交流)、DC(直流),USB(選配SD卡大容量存貯模塊)
13、電源:4節(jié)(5號)電池,可外接5V電源。作電流約120mA,zui大約200mA。
14、作溫度:-10℃~50℃、相對濕度:20%~90%、外形尺寸(mm):260×80×30
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